兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧?、電線、電纜等在高低溫快速交變環(huán)境下，確定組件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力
品牌：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問次數(shù)：2310
更新時(shí)間：2023-11-07

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

　　一、兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：

　　兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測(cè)試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

　　二、兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	BS-40I	BS-80I	BS-100I	BS-150I	BS-252I	BS-450I
內(nèi)箱尺寸WHD(mm)	400350300	500400400	500450450	600500500	700600600	800750750
外箱尺寸WHD(mm)	110019301450	120020001550	150019501600	130012301670	175021201970	190022702210
重量(KG)	700	900	1100	1200	1400	1900
溫度范圍	（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高溫區(qū)： 60℃-150℃ 低溫區(qū)：-10℃--65℃ ）
升溫時(shí)間（蓄熱區(qū)）	RT-200℃約35min
降溫時(shí)間（蓄冷區(qū)）	RT—70℃約55min
溫度回復(fù)/切換時(shí)間	≤5min / ≤5sec以內(nèi)
溫度精度/分布精度	±0.5℃ ±2.5% ℃
冷卻方式	風(fēng)、水冷式/雙斷壓縮機(jī)
電源	AC380V ±10%V 50HZ/60HZ

　　三、兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

　　1.GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

　　2.GB/2423.22-2012/IEC60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

　　3.GB/T2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

　　4.GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

　　5.GB/T2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

　　6.GB/T2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

　　7.GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　8.GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

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