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一、高低溫試驗(yàn)機(jī)簡介:
可程式高低溫試驗(yàn)機(jī)廣泛適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運(yùn)輸和使用時的適應(yīng)性試驗(yàn),以及溫度漸變試驗(yàn)。還可以對電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。
二、高低溫試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)
型號 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
內(nèi)箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
溫度范圍 | -70-+100℃(150℃) (A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃) | ||||||
溫度解析度/均勻度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
溫度控制精度/波動度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升溫/降溫時間 | 約3℃/min 約1℃/min (其他條件可定制) | ||||||
電源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60HZ |
三、高低溫試驗(yàn)箱價(jià)格執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
3. GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)方法
4. GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)方法
5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
四、高低溫試驗(yàn)箱價(jià)格驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及第三方檢定:
1.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn):技術(shù)指標(biāo)按雙方簽訂之“技術(shù)協(xié)議書”規(guī)定的方法。
2.驗(yàn)收方法:在需方現(xiàn)場進(jìn)行正式驗(yàn)收。
3.出廠前需方如需請第三方(由國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量檢測中心檢定并出具有效期的檢驗(yàn)報(bào)告)參與驗(yàn)收,其費(fèi)用由需方承擔(dān)。若*次驗(yàn)收不合格,經(jīng)供方改進(jìn)后再一次進(jìn)行驗(yàn)收時所產(chǎn)生費(fèi)用由供方承擔(dān)。
4.客戶自行委托國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量檢測中心檢定。
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